关于Insert_Scan

 

 

• 随着半导体工艺的发展,可测性技术(DFT)成为每个芯片在设计中必须考虑的问题

 

 

• 测试覆盖率作为DFT技术中的关键指标,受到多种因素制约

 

 

• 本文针对常见的Insert_scan问题和方法,做一个深入的分析和总结

 

 

• Insert_Scan属于时序设计中的高阶问题,需要一定的背景知识才能了解透彻

 

 

• 实际案例的具体分析和方法

 

 

• 希望对大家的面试和工作有帮助

 What is DFT?

 

 

•   DFT strategies that :

 

 

•     Improve quality by detectingdefects

 

 

•     Make it easier to generatevectors

 

 

•     Reduce vector generation time

 

•     Reduce cost

Insert scan 总结

•   Insert scan 属于时序设计中的高阶问题

•   需要根据设计的具体情况严格定义scan的范围

•   充分考虑insertscan 对时序的影响,合理制定DFT方案

•   充分考虑设计和测试的实际情况,合理推出DFT的解决方案

•   根据testcoverage 的报告,合理高效的分析测试结果,同RTL设计人员的充分沟通是提高测试覆盖率的唯一途径

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